KIT Scientific Publishing

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Matthias Michelsburg

Materialklassifikation in optischen Inspektionssystemen mithilfe hyperspektraler Daten

(Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik ; 10)

AutorMichelsburg, Matthias

VerlagKIT Scientific Publishing, Karlsruhe

ISBN9783731502739

UmfangXI, 222 S.

Veröffentlicht
am:
11.11.2014

Erscheinungs-
jahr
2014

VerfügbarkeitAktiv

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Für Zitate bitte die folgende URL verwenden:
http://dx.doi.org/10.5445/KSP/1000043415

Abstract

In dieser Arbeit werden verschiedene Methoden zur Materialklassifikation mithilfe hyperspektraler Bildaufnahmen im Nahinfrarotbereich untersucht. Dabei wird insbesondere auf den Entwurf von problemangepassten Kamerasystemen und die Wahl optimaler optischer Filter eingegangen. Zusätzlich wird eine Methode zur Fusion mehrerer Kamerasignale mithilfe der spektralen Entmischung vorgestellt.