KIT Scientific Publishing

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Jürgen Beyerer (Hrsg.), Fernando Puente León (Hrsg.), Thomas Längle (Hrsg.)

OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings

AutorBeyerer, Jürgen (Hrsg.); Puente León, Fernando (Hrsg.); Längle, Thomas (Hrsg.)

VerlagKIT Scientific Publishing, Karlsruhe

ISBN9783731503187

UmfangVII, 279 S.

Veröffentlicht
am:
18.03.2015

Erscheinungs-
jahr
2015

VerfügbarkeitAktiv

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Für Zitate bitte die folgende URL verwenden:
http://dx.doi.org/10.5445/KSP/1000044906

Abstract

Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.