KIT Scientific Publishing

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Michael Kornely

Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks

(Schriften des Instituts für Werkstoffe der Elektrotechnik, Karlsruher Institut für Technologie ; 22)

AutorKornely, Michael

VerlagKIT Scientific Publishing, Karlsruhe

ISBN9783866448339

UmfangV, 166 S.

Veröffentlicht
am:
10.08.2012

Erscheinungs-
jahr
2012

VerfügbarkeitAktiv

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Für Zitate bitte die folgende URL verwenden:
http://dx.doi.org/10.5445/KSP/1000027170

Abstract

In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand.