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  • Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262

    Ralf Nörenberg

    Band 3 von Steinbuch Series on Advances in Information Technology
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    Selektive Regressionstestmethodiken analysieren auf Basis einer auf eine Systemdarstellung abgebildeten Modifikation, welche Testfälle für eine systematische Überprüfung der Änderung selbst sowie aller potentiellen durch eine mögliche Fehlwirkung betroffenen Teilbereiche des Systems notwendig sind. Im Rahmen dieser Arbeit wird erstmals eine effiziente und spezifikationsbasierte Regressionstestmethodik nach ISO 26262 für die E/E-Systemebene entwickelt.

    Umfang: IX, 235 S.

    Preis: €62.00 | £57.00 | $109.00

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    Nörenberg, R. 2012. Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000027498
    Nörenberg, R., 2012. Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000027498
    Nörenberg, R. Effizienter Regressionstest Von E/e-systemen Nach ISO 26262. KIT Scientific Publishing, 2012. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000027498
    Nörenberg, R. (2012). Effizienter Regressionstest von E/E-Systemen nach ISO 26262. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000027498
    Nörenberg, Ralf. 2012. Effizienter Regressionstest Von E/e-systemen Nach ISO 26262. Karlsruhe: KIT Scientific Publishing. DOI: https://doi.org/10.5445/KSP/1000027498




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    Weitere Informationen

    Veröffentlicht am 14. Juni 2012

    Sprache

    Deutsch

    Seitenanzahl:

    250

    ISBN
    Paperback 978-3-86644-842-1

    DOI
    https://doi.org/10.5445/KSP/1000027498